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Resumos e Trabalhos de Eventos em Geral
 
1.
  CRUZ, C. A. M.; LIMA, J. E. S.; REIS FILHO, Carlos Alberto dos; A Charge Pump without Overstress for Standard CMOS Process with Improved Current Driver Capability, 12/2008, IEEE Convention of Electrical and Electronics Engineers in Israel,Vol. 1, pp.618-622, Eilat, Israel, 2008
 
2.
  CRUZ, C. A. M.; MOGNON, V. R.; REIS FILHO, Carlos Alberto dos; A Charge Pump Circuit Without Gate-Oxide Overstress for Standard CMOS Technology and Suitable for Low-Power Applications, 01/2008, IEEE Convention of Electrical and Electronics Engineers in Israel,Vol. 1, pp.46-50, Eilat, Israel, 2008
 
 

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