Conheça a UniversidadePesquisa na UniversidadeUnidadesCentros e NúcleosCentros e NúcleosProdução  Científica em 2013Logotipo da UnicampClique para a página inicial

  você está aqui:  Centros e Núcleos - CCS
    
 CBMEG
CCS
CEB
CESOP
CEPETRO
CIDDIC
CLE
CMU
CEPAGRI
CEMIB
CPQBA
NUDECRI
NEPO
PAGU
NEPP
NEPAM
NEPA
NIED
NICS
LUME
NIPE

<< retorna - Menu Produções

 
Centro de Componentes Semicondutores
 
Produções / Artigos publicados em periódicos

Artigos publicados em periódicos especializados arbitrados
 
Circulação Internacional
 
1.
  KAUFMANN, P.; WHITE, SM, White, SM; FREELAND, SL, Freeland, SL; MARCON, Rogerio; FERNANDES, LOT, Fernandes, LOT; KUDAKA, AS, Kudaka, AS; DE SOUZA, R. V, de Souza, R. V; ABALLAY, JL, Aballay, JL; FERNANDEZ, G, Fernandez, G; GODOY, R, Godoy, R; MARUN, A, Marun, A; VALIO, A. S.; RAULIN, JP, Raulin, JP; GIMÉNEZ DE CASTRO, C.G.; A Bright Impulsive Solar Burst Detected At 30 THz, 05/2013, The Astrophysical Journal,Vol. 768, Fac. 2, pp.1-9, Chicago, IL 60637, Estados Unidos da América, 2013 *
 
2.
  ALMEIDA, J. M. A.; SANTOS, PEC, Santos, PEC; CARDOSO, L. P.; MENESES, CT, Meneses, CT; A simple method to obtain Fe-doped CeO2 nanocrystals at room temperature, 02/2013, Journal of Magnetism and Magnetic Materials,Vol. 327, Fac. 0, pp.185-188, Amsterdam, Holanda, 2013 *
 
3.
  KAUFMANN, P.; Analysis of Cosmic Ray Variations observed by de CARPET in association with Solar Flares in 2011-2012, 01/2013, Journal of Physics. Conference Series (Online),Vol. 409, pp.12-18, Estados Unidos da América, 2013
 
4.
  SANTOS, M. V. P.; LIMA, L. P. B.; DINIZ, J. A.; GODOY FILHO, J.; Fabrication of p-type silicon nanowires for 3D FETs using focused ion beam, 01/2013, Journal of Vacuum Science & Technology. B, Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement and Phenomena,Vol. 31, pp.1-6, New York, Estados Unidos da América, 2013 *
 
5.
  LIMA, L. P. B.; DINIZ, J. A.; RADTKE, Claudio; SANTOS, M. V. P.; DOI, I.; GODOY FILHO, J.; Influence of Al/TiN/SiO2 structure on MOS capacitor, Schottky diode, and fin field effect transistors devices, 01/2013, Journal of Vacuum Science & Technology. B, Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement and Phenomena,Vol. 31, pp.52202-52202, New York, Estados Unidos da América, 2013 *
 
 
* Esta produção está associada também a outros órgãos

<< retorna - Menu Produções

©2013 Universidade Estadual de Campinas - UNICAMP
Cidade Universitária "Zeferino Vaz" - Br. Geraldo - Campinas - SP