| Nome Projeto: | CARACTERIZACAO DE ESTRUTURAS SEMICONDUTORAS TENSIONADAS ATRAVES DA TECNICA DE ESPECTROSCOPIA RAMAN |
|
| Tipo Projeto: | Pesquisa Básica |
| | Situação Projeto: | Em Andamento |
|
| Data Início Projeto: | 10/2015 |
| |
| Tipo Envolvimento Contrato: | Individual |
|
| Descrição Projeto: | CARACTERIZACAO DE ESTRUTURAS SEMICONDUTORAS TENSIONADAS ATRAVES DA TECNICA DE ESPECTROSCOPIA RAMAN |
|
| Instituições | | Nome: | | Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo |
|
| Tipo do Financiamento: | Bolsa Iniciação Científica IC |
|
| Nº Processo na Financiadora: | 2015/14065-2 |
| | Data Início Financiamento: | 10/2015 |
|
| Data Fim Financiamento: | 09/2016 |
| | Valor do Financiamento: | R$ 8.103,53 |
|
| Complemento do Tipo Financiamento: | BOLSA NO PAIS-IC |
|
|
|
| Órgãos | | (FEEC) DSIF - DEPARTAMENTO DE SEMICONDUTORES INSTRUMENTOS E FOTONICA [29.09.00.00.00.00.00] |
| (REIT) CCSNAN - CENTRO DE COMPONENTES SEMICONDUTORES E NANOTECNOLOGIAS [01.21.00.00.00.00.00] |
|
| Equipes Projeto | | Lucas Barroso Spejo( Participante ) |
| José Alexandre Diniz( Responsável ) |
|
|
