Estudo da interface TiN/silício cristalino por espectroscopia de elétrons fotoemitidos por raios X (XPS)

"Estudo da interface TiN/silício cristalino por espectroscopia de elétrons fotoemitidos por raios X (XPS)" (doutorado). Candidato: Vinícius Gabriel Antunes. Orientador: professor Fernando Alvarez. Dia 30 de janeiro de 2018, às 14 horas, na sala de seminários do DFA do IFGW.