Caracterização do estresse mecânico de nanoestruturas de silício tensionado por espectroscopia Raman

"Caracterização do estresse mecânico de nanoestruturas de silício tensionado por espectroscopia Raman" (Mestrado). Candidato: Lucas Barroso Spejo. Orientador: professor José Alexandre Diniz. Dia 12 de março de 2020, às 9 horas, na sala LE48 da FEEC.