Diagnóstico de feixe de raios X usando pticografia para alinhamento de elementos ópticos

"Diagnóstico de feixe de raios X usando pticografia para alinhamento de elementos ópticos" (Mestrado). Candidato: Sérgio Augusto Lordano Luiz. Orientadora: professora Alessandra Tomal. Dia 3 de novembro de 2022, às 14 horas, no auditório da Pós-graduação do IFGW.

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